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质量事件仪表盘
跟踪一段时间内的质量事件,并在交互式仪表板中查看高级指标、Paretos 和公开行动
应用目的
此应用程序的目的是提供质量事件的可视化概览,让您能够查看缺陷的动态分布、趋势和未决行动,以便进行日常管理。
工作原理
该应用程序依赖于库中其他应用程序使用共享表结构生成的生产数据。这些应用程序是 "质量事件管理器"和 "质量偏差报告",尽管库中的许多其他应用程序也使用类似的方法来记录事件。
在 "仪表盘 "步骤中,应用程序会存储当前日期,并以此来筛选分析结果。还有一个嵌入式表格显示打开的操作。只有当您使用库中依赖于**(操作工件)缺陷**表的应用程序时,才会看到弹出的信息。
应用程序结构
该应用程序包括两个步骤。第一步包含六个分析指标,第二步包含两个分析指标。
在第一步中,您会发现一个事件状态部分,显示待处理事件、打开的事件和关闭的事件。这一步还包括根本原因帕累托、缺陷帕累托和未结项目分析。
在第二步中,您将看到关闭事件的平均时间和上周关闭率分析。
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